Назначение
Анализатор фрагментов микроструктуры твердых тел (далее - анализатор) предназначен для измерений размеров фрагментов микроструктуры твердых тел.
Область применения: угольная, металлургическая, химическая и др. промышленности.
Описание
Принцип работы анализатора основан на прямом измерении линейных размеров фрагментов микроструктуры твердых тел.
Анализатор представляет собой измерительную установку, состоящую из устройства для создания изображения, устройства преобразования изображения в цифровую форму , устройства передачи изображения в компьютер и управляющей программы, с помощью которой осуществляется анализ изображения, включающей в себя подготовку изображения к измерениям, измерение параметров фрагментов и преобразование результатов измерений в параметры микроструктуры исследуемых объектов.
Анализатор может применяться для анализа различных объектов, для которых можно задавать разные способы подготовки изображения и разные параметры, описывающие микроструктуру. Эти задачи анализатор выполняет с помощью разных управляющих программ, специфических для каждой задачи.
Технические характеристики
Диапазон измерений длины, мкм от 0,5 до 2000.
Предел допускаемого относительного среднего квадратического отклонения случайной составляющей погрешности, %:
- при увеличении до х500 включительно 0,2;
- при увеличении свыше х500 0,4.
Пределы допускаемой относительной погрешности, %:
- при увеличении до х500 включительно ± 0,25;
- при увеличении свыше х500 ±0,65.
Параметры электрического питания и потребляемая мощность:
- напряжение переменного тока, В 220±20;
- частота переменного тока, Гц 5 0± 1;
- потребляемая мощность, В-A, не более
Габаритные размеры после установки у пользователя, см, не более:
- длина
- ширина
- высота
Масса, кг, не более
Условия эксплуатации:
- температура окружающей среды, °C от 15 до 40;
относительная влажность, % от 20 до 80.
Средняя наработка на отказ, ч, не менее
Средний срок службы, л
Знак утверждения типа
Знак утверждения типа наносится на титульный лист руководства по эксплуатации и паспорт типографским способом, на лицевую панель в виде наклейки.
Комплектность
| Наименование блоков | Количество |
| 1. Микроскоп оптический (в комплекте: столик предметный; переходник (камера-микроскоп); блок питания лампы микроскопа; комплект объективов; инструкция по эксплуатации) | 1 |
| 2. Система оцифровки изображения в комплекте с системой цифрового видеовхода | 1 |
| 3. Компьютер (М/В Intel G33 (CPU Intel Core2 Duo, 2 GB RAM, DVD-R/RW, HDD 500 GB, Power ATX 350 W, FDD, Keyboard, Mouse, 19” LCD monitor, Microsoft Windows XP, Vista, Microsoft Office 2003/2007, принтер: минимально допустимые характеристики: 600 dpi, цветной, А4) | 1 |
| 4. Объект-микрометр ОМ-О (длина шкалы 1,0000±0,0005 мм; абсолютная погрешность ± 0,0001 мм) | 1 |
| 5. Управляющая программа СИАМС 700 | 1 |
| 6. Руководство по эксплуатации РЭ 4317-001-12285114-2009 | 1 |
| 7. Паспорт ПС 4317-001- 12285114-2009 | 1 |
| 8. Методика поверки МП 52-224-2009 | 1 |
Поверка
Поверка производится в соответствии с нормативным документом "ГСП. Анализаторы фрагментов микроструктуры твердых тел. Методика поверки" МП 52-224-2009, утвержденной ФГУП «УНИИМ» в декабре 2009 г.
Основные средства поверки:
- объект-микрометр ОМ-О (длина шкалы 1,0000±0,0005 мм; абсолютная погрешность ± 0,0001 мм).
Межповерочный интервал 1 год.
Нормативные документы
ТУ 4317 - 001 - 12285114 - 2004 " Анализатор фрагментов микроструктуры твердых тел.
Технические условия" с изменениями № 1 и № 2.
Заключение
Тип анализаторов фрагментов микроструктуры твердых тел утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, метрологически обеспечен при выпуске из производства и в эксплуатации.
