Анализаторы покрытий рентгенофлуоресцентные X-STRATA 920, X-STRATA 980. Характеристики, описание, методика поверки.
Госреестр средств измерений РФ на основании сведений из ФГИС “АРШИН”

Анализаторы покрытий рентгенофлуоресцентные X-STRATA 920, X-STRATA 980

Основные
Тип X-STRATA 920, X-STRATA 980
Год регистрации 2014
Дата протокола Приказ 522 п. 17 от 25.04.2014
Срок действия сертификата 25.04.2019
Страна-производитель  Великобритания 
Тип сертификата (C - серия/E - партия) C

Назначение

Анализаторы покрытий рентгенофлуоресцентные X-STRATA 920, X-STRATA 980 (далее по тексту - анализаторы) предназначены для измерения толщины однослойных, многослойных или сплавных покрытий, определения концентрации растворов, составов сплавов и анализа материалов методом энергодисперсионной рентгеновской флуоресценции.

Описание

Принцип действия анализаторов основан на излучении химическими элементами, присутствующими в анализируемом образце, характеристиках спектральных линий под действием высокоэнергетического излучения рентгеновской трубки. Вторичное рентгеновское излучение классифицируется по энергии излученных квантов с последующей регистрацией энергетического спектра. Специализированное программное обеспечение (далее по тексту -ПО) позволяет рассчитать толщину и элементный состав покрытия.

Общий вид Анализаторов покрытий рентгенофлуоресцентных X-STRATA 920, XSTRATA 980 представлен на рисунке 1

Пломбирование анализаторов покрытий рентгенофлуоресцентных X-STRATA 920, X-STRATA 980 не предусмотрено.

Место нанесения

знака поверки

а) X-STRATA 920                       б) X-STRATA 980

Рисунок 1 - Общий вид анализаторов покрытий рентгенофлуоресцентных

X-STRATA 920, X-STRATA 980

Основными элементами конструкции анализаторов являются:

- Измерительная камера, содержащая рентгеновскую трубку и измерительное устройство, служащее также для защиты пользователя от излучения;

- Рентгеновская трубка - источник рентгеновского излучения;

- Источник питания, служащий для обеспечения всех частей анализатора электроэнергией с определенными характеристиками;- Детектор-полупроводниковый для XSTRATA 980 и пропорциональный счетчик, заполненный ксеноном для X-STRATA 920, служащий для преобразования гамма квантов вторичного рентгеновского излучения в электрический сигнал;

- Для модели X-STRATA 920 используется персональный компьютер, предназначенный для приема, обработки и выдачи информации. Для модели X-STRATA 980 персональный компьютер встроен в корпус измерительной камеры.

Программное обеспечение

Для осуществления управления электронным блоком, сбора и анализа данных на персональном компьютере установлено программное обеспечение (ПО) SmatrLink FP.

У ровень защиты программного обеспечения «средний» в соответствии с Р 50.2.077-2014.

аблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения

Идентификационные данные (признаки)

Значение

для X-STRATA 920

для X-STRATA 980

Идентификационное наименование ПО

SmartLink FP

Номер   версии   (идентификационный

номер ПО)

не ниже 4.4

не ниже 6.2

Цифровой идентификатор ПО

-

Технические характеристики

Таблица 2 - Метрологические характеристики

Наименование характеристики

Значение

Диапазон измерения толщины покрытия, мкм

от 0 до 120

Пределы погрешности измерения толщины покрытия:

-пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения толщины покрытия (в диапазоне от 0 мкм до 0,5 мкм включительно), мкм

-пределы допускаемой относительной погрешности измерения толщины покрытия (в диапазоне свыше 0,5 мкм до 120 мкм), %

±0,025 для первого (верхнего слоя) ±0,05 для второго слоя ±0,075 для третьего слоя ±0,1 для четвертого слоя

±5 для первого (верхнего) слоя

±10 для второго слоя

±15 для третьего слоя

±20 для четвертого слоя

Диапазон измерения массовой доли элементов, %

от 0,01 до 100,00

Пределы допускаемой относительной погрешности измерения массовой доли элементов,%

±2

Таблица 3 - Основные технические характеристики

Наименование характеристики

Значение

Анализируемые элементы:

-Х-STRATA 920

-X-STRATA 980

от титана (Z=22) до урана (Z=92)

от фосфора (Z=15) до урана (Z=92)

Количество измеряемых слоев покрытия, не более

5 (включая основание)

Высота измеряемого образца, мм, не более:

-Х-STRATA 920

-Х-STRATA 980

160

220

Продолжение таблицы 3

Наименование характеристики

Значение

Лазерная фокусировка

по оси Z

Напряжение питания, В при частоте, Гц

от 215 до 265 от 47 до 63

Потребляемый ток, А, не более

2,3

Г абаритные размеры, ширинахглубинахвысота, мм, не более:

-Х-STRATA 920

-Х-STRATA 980

610x1037x375 700x790x765

Масса, кг, не более -Х-STRATA 920 -Х-STRATA 980

97

135

Условия эксплуатации:

Температура окружающей среды, 0С

Относительная влажность воздуха, %

от 10 до 40

от 0 до 98

Знак утверждения типа

наносится типографским способом на титульный лист руководства по эксплуатации печатным способом и на боковую панель прибора с помощью наклейки.

Комплектность

Таблица 4 - Комплектность средства измерений

Наименование

Обозначение

Количество

Анализатор покрытий рентгенофлуоресцентный

-

1 шт.

Чемодан с комплектующими

-

1 шт.

Устройства ввода-вывода: клавиатура, мышь

-

1 компл.

Набор настроечных образцов

-

1 компл.

Программное обеспечение SmartLink FP

-

1 экз.

Руководство по эксплуатации

-

1 экз.

Методика поверки

МП 105.Д4-13

1 экз.

Персональный компьютер (для X-STRATA 920)

-

1 шт.

Поверка

осуществляется по документу МП 105.Д4-13 «Анализаторы покрытий рентгенофлуоресцентные

X-STRATA 920, X-STRATA 980. Методика поверки», утвержденному ФГУП «ВНИИОФИ» 24 декабря 2013 года.

Основные средства поверки:

Государственные стандартные образцы (ГСО) состава: сталей легированных ГСО 4165-91П, 2489-91П-2497-91П. Погрешность аттестации, не хуже 0,05%.

Рабочий эталон 2-го разряда по Р 50.2.006-2001.

Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемых анализаторов с требуемой точностью.

Знак поверки наносится на корпус анализатор (место нанесения указано на рисунке 1).

Сведения о методах измерений

приведены в эксплуатационном документе.

Нормативные документы

Техническая документация «Hitachi High-Tech Analytical Science Ltd»

Развернуть полное описание