Микроскоп электронный растровый JSM-6490LV. Характеристики, описание, методика поверки.
Госреестр средств измерений РФ на основании сведений из ФГИС “АРШИН”

Микроскоп электронный растровый JSM-6490LV

Основные
Тип
Зарегистрировано поверок 3
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Найдено поверителей 1

Назначение

Микроскоп электронный растровый JSM-6490LV (далее по тексту - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров микрорельефа твердых структур.

Описание

Принцип работы микроскопа основан на взаимодействии электронного пучка с поверхностью объекта. Электронный луч непрерывно сканирует участок поверхности объекта, изображение которого формируется микроскопом. При этом каждая точка поверхности объекта, в границах поля зрения микроскопа, отображается соответствующей точкой на формируемом изображении. При взаимодействии электронного луча с поверхностью объекта единовременно возникает сразу несколько ответных сигналов. В зависимости от того, какой детектор сигнала в данный момент включен, микроскоп формирует то или иное конкретное изображение.

Микроскоп измеряет длину проекции геометрических расстояний на горизонтальную плоскость, т.е. расстояние между соответствующими точками на плоской и горизонтально ориентированной поверхности объекта.

Микроскоп укомплектован системой электронной литографии Xenos XeDraw 2, которая позволяет прорисовывать нужные конфигурации на поверхности чувствительного к элементному облучению резита, а так же системой энергодисперсионного рентгеновского микроанализа и дифракции отраженных электронов Bruker Quantax CrystAling200 для определения количественного и качественного состава образца.

Программное обеспечение

Все действия с микроскопом проводятся с помощью ПК, на котором установлено автономное программное обеспечение (ПО).

Интерфейсная часть программного обеспечения микроскопа запускается на ПК и служит для отображения, обработки и сохранения результатов измерений; она состоит из управляющей программы SEM Control User Interface.

Программное обеспечение SEM Control User Interface снабжено уникальной системой навигаторов, которые направляют пользователя на всех этапах процесса микроанализа, начиная с создания нового проекта и заканчивая созданием готового к печати отчета.

Система имеет три основных навигатора:

-    Анализатор (позволяет проводить накопление спектра с участка образца, облучаемого электронным пучком);

-    Point & ID (позволяет проводить накопление с участков образца, отмеченных на изображении, облучаемых сфокусированным электронным пучком в режиме сканирования);

-    Картирование (позволяет проводить накопление спектра с выделенного участка образца, отмеченного на изображении, в режиме сканирования, с возможностью получения карты распределения по химическим элементам).

Результаты измерений заносятся в протокол, генерируемый программой, и хранятся на жестком диске компьютера.

Обмен данными между микроскопом и персональным компьютером осуществляется по порту USB.

Искажение данных при передаче через интерфейс связи исключается параметрами протокола.

Идентификационные данные ПО приведены в таблице 1.

Идентификационные данные (признаки)

Значение

Идентификационное наименование ПО

SEM Control User Interface

Номер версии (идентификационный номер) ПО

8.3

Цифровой идентификатор ПО

778E9E83424AF495FBAB43664B156384

Алгоритм хэширования

MD5

Уровень защиты программного обеспечения от преднамеренных и непреднамеренных изменений в соответствии с Р 50.2.077-2014 средний.

Технические характеристики

Таблица 2

Наименование характеристики

Значение

характеристики

Диапазон измерений линейных размеров, мкм

от 3 до 100

Диапазон показаний линейных размеров, мкм

от 0,03 до 1000

Пределы допускаемой абсолютной погрешности, мкм:

- в диапазоне от 3 до 100 мкм

±0,1

Эффективный диаметр электронного зонда во вторичных электронах при 30 кВ, нм, не более

120

Электропитание осуществляется от сети переменного тока с

напряжением, В

220±5

частотой, Гц

50 ± 10

Диапазон регулировки ускоряющего напряжения, кВ

0,3 - 30

Габаритные размеры основных составных частей, мм, не более

блок электронно-оптической колонны

750x960x1480

операционный блок

1150x900x700

масляно-ротационный насос

460x175x255

виброизолятор

270x200x200

Масса основных составных частей, кг, не более

блок электронно-оптической колонны

400

операционный блок

170

масляно-ротационный насос

23

виброизолятор

10

Условия эксплуатации:

- температура окружающей сред, ° С

20 ± 3

- относительная влажность воздуха, % не более

80

-атмосферное давление, кПа

100 ± 4

Знак утверждения типа

наносится на заднюю панель корпуса микроскопа методом наклеивания и на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом.

Комплектность

Таблица 3

Наименование

Количество, шт

Микроскоп электронный растровый JSM-6490LV

1

Система электронной литографии Xenos XeDraw 2

1

Система энергодисперсионного рентгеновского микроанализа и дифракции отраженных электронов Bruker Quantax CrystAling200

1

Блок электронно-оптической колонны

1

Блок управления

1

Персональный компьютер

1

CD-диск с ПО

1

Масляно-ротационный насос

Виброизолятор

1

Набор инструментов

1

Комплект принадлежностей для установки и транспортировки

1

Руководство по эксплуатации

1

Методика поверки

1

Поверка

осуществляется по документу МП 013.М1-15 «Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскоп электронный растровый JSM-6490LV. Методика поверки», утвержденному ФГУП «ВНИИОФИ» 10.03.2015 г.

Основные средства поверки:

Мера периода и высоты линейные TGZ1 (№ г.р. 41678-09)

Основные метрологические характеристики: номинальное значение шага шаговой структуры меры 3 мкм,

допустимое отклонение от номинального значения шага периодической структуры не более, мкм ± 0,01.

Сведения о методах измерений

Руководство по эксплуатации «Микроскоп электронный растровый JSM-6490LV», раздел 6.

Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к микроскопу электронному растровому JSM-6490LV

1    ГОСТ Р 8.763-2011 «Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 110-9 до 50 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм».

2    Техническая документация фирмы-изготовителя

Развернуть полное описание