Микроскопы двойные для измерения неровностей микропрофиля МИС-11. Характеристики, описание, методика поверки.
Госреестр средств измерений РФ на основании сведений из ФГИС “АРШИН”

Микроскопы двойные для измерения неровностей микропрофиля МИС-11

Основные
Тип МИС-11
Год регистрации 1986
Дата протокола 171 от 04.06.86 п.03
Класс СИ 27.01
Межповерочный интервал / Периодичность поверки -
Номер сертификата нет
Примечание Исключен в 1986 г.
Срок действия сертификата . .
Страна-производитель  СССР 
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С