Назначение
Микроскопы инвертированные AXIO Observer.Alm (далее - микроскопы) предназначены для измерения линейных размеров микроструктуры твердых тел.
Описание
Принцип действия микроскопов основан на оптическом визирном методе отраженного (инвертированного) света.
Конструктивно микроскопы состоят из штатива с механическим позиционированием предметного столика, оптической системы с 6-позиционной револьверной головкой для объективов, осветительной системы, рефлекторного модуля и системы регистрации изображений. Управление фокусировкой и позиционирование образцов осуществляется в ручном режиме с помощью микроманипуляторов расположенных на штативе.
В зависимости от используемого осветителя и рефлекторов могут быть использованы следующие виды микроскопии: светлопольная микроскопия; поляризационная микроскопия; темнопольная микроскопия; дифференциальная интерференционно-контрастная микроскопия (dic); дифференциальная интерференционно-контрастная микроскопия в свете с круговой поляризацией (c-dic); микроинтерферометрия (tic); люминесцентная микроскопия.
Внешний вид микроскопов представлен на рисунке 1.
Место нанесения знака поверки
Рисунок 1 - Внешний вид микроскопов инвертированных AXIO Observer.A1m
Лист № 2
Всего листов 3 Программное обеспечение
Микроскопы оснащены внешним программным обеспечением AXIO Vision (далее ПО), которое представляет собой модульную систему для обработки и анализа изображений. ПО позволяет производить захват изображения и управлять микроскопом, обрабатывать изображения и наносить аннотации, проводить анализ и документирование.
Идентификационные данные программного обеспечения
| Идентификационное наименование программного обеспечения | Номер версии (идентификационный номер) программного обеспечения | Цифровой идентификатор программного обеспечения | Другие идентификационные данные | Алгоритм вычисления цифрового идентификатора программного обеспечения |
| AXIO Vision | 4.8.2.X | 0205C2DC | AxioVs40.exe | CRC32 |
Уровень защиты программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных
изменений соответствует уровню «С» по МИ 3286-2010.
Технические характеристики
| Наименование характеристик | Значения характеристик |
| Диапазон измерений линейных размеров, мкм | от 2 до 1000 |
| Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров, мкм | ± 2 |
| Питание: - напряжение, В - частота, Гц | 220 ± 22 50/60 |
| Потребляемая мощность, Вт, не более | 155 |
| Габаритные размеры (Ш х Г х В), мм, не более | 295 х 805 х 707 |
| Масса, кг, не более | 27 |
| Условия эксплуатации: • температура окружающего воздуха, °С • относительная влажность воздуха, %, не более (при 35 °С) • атмосферное давление, кПа | от 5 до 40 75 от 80 до 106 |
| Средний срок службы, лет, не менее | 5 |
Знак утверждения типа
наносится на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом и на микроскоп в виде наклейки.
Комплектность
В комплект поставки входят:
- микроскоп инвертированный AXIO Observer.A1m с комплектом объективов и рефлекторов;
- DP03EH-WE11-M1001-AB037 «Инвертированный металлографический микроскоп. Руководство по эксплуатации»;
- МП 125-251-2013 «ГСИ. Микроскопы инвертированные AXIO Observer.A1m. Методика поверки».
Поверка
осуществляется по документу МП 125-251-2013 «Микроскопы инвертированные AXIO
Observer.A1m. Методика поверки», утвержденному ФГУП «УНИИМ» «03» февраля 2014 г.
Перечень основных средств поверки:
- объект-микрометр ОМО, от 0 до 1 мм, Д= ± 1 мкм.
Сведения о методах измерений
Методика измерений представлена в руководстве по эксплуатации.
Нормативные документы
Техническая документация изготовителя Carl Zeiss AG.
Рекомендации к применению
Выполнение работ по оценке соответствия промышленной продукции и продукции других видов, а также иных объектов установленным законодательством Российской Федерации обязательным требованиям.
54030-13
