Назначение
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и Waveline W900 (далее по тексту - приборы) предназначены для измерений профилей различных деталей и (или) параметров шероховатости, а также для определения в измеренных профилях геометрических параметров: расстояний между точками и радиусов дуг.
Описание
Действие приборов основано на принципе ощупывания неровностей исследуемой поверхности щуповой консолью с алмазным, твердосплавным или рубиновым наконечником и преобразования возникающих при этом механических колебаний щупа в изменения напряжения, пропорциональные этим колебаниям, которые усиливаются и преобразуются в микропроцессоре. Результаты измерений выводятся на монитор системы управления и оценки (в виде профилей, числовых значений параметров шероховатости и геометрических параметров профилей).
Модификация приборов нанесена на колонну (рис. 1) и обозначается следующим образом:
Waveline WX00A
где X - серия прибора: 8 или 9;
00 - исполнение блока привода: 12 или 20, для 120 мм или 200 мм, соответственно;
A - исполнение прибора: R - измерение шероховатости, C - измерение контура, RC -измерение шероховатости и контура.
Модификации приборов различаются визуально, а также метрологическими и техническими характеристиками.
Рисунок 1 - Пример обозначения модификации Приборы состоят из следующих элементов:
Гранитной плиты, устанавливаемой на элементах демпфирования. На гранитной плите расположена моторизованная вертикальная колонна (ZM500 или ZM800), а также может размещаться опциональный ручной или моторизованный измерительный стол для установки и позиционирования на нем исследуемых объектов. На вертикальной колонне закреплен привод горизонтального перемещения (XM120 или XM200), на который устанавливается датчик и щуповая консоль для проведения измерений геометрических параметров контура и шероховатости поверхности. В зависимости от поставленных задач, приборы могут поставляться вместе с опциональным инструментальным столом с активной или пассивной системой подавления вибраций, а также кабиной, защищающей рабочее пространство прибора от воздействия окружающей среды. Система управления и оценки подключается к датчику, приводам и элементам управления. Управление всеми перемещениями осуществляется при помощи меню на экране монитора с мышки или джойстика.
Общий вид приборов представлен на рисунках 2-3.
Приборы в зависимости от заказа оснащаются датчиками следующих модификаций: TKU400 для измерений шероховатости (рис. 4), Digiscan для измерений контура (рис. 5), Surfscan для измерений шероховатости и контура (рис. 6), Nanoscan для измерений шероховатости и контура (рис. 7).
Пломбировка приборов от несанкционированного доступа не предусмотрена.
Рисунок 6 - Общий вид датчиков для измерений параметров контура и шероховатости
поверхности Surfscan
Программное обеспечение
Приборы имеют в своем составе программное обеспечение (ПО) Evovis, разработанное для конкретной измерительной задачи, осуществляющее измерительные функции, функции расчета параметров и функции индикации.
Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения
| Идентификационные данные (признаки) | Значение |
| Идентификационное наименование ПО | Evovis |
| Номер версии (идентификационный номер) ПО, не ниже | 2.7 |
| Цифровой идентификатор ПО | - |
Программное обеспечение и его окружение являются неизменными, средства для программирования или изменения метрологически значимых функций отсутствуют.
Уровень защиты программного обеспечения приборов «высокий» в соответствии с Р 50.2.077-2014.
Таблица 2 - Метрологические характеристики приборов Waveline W800
| Наименование характеристики | Значение |
| Модификация датчика | Digiscan | TKU400 | Surfscan | Nanoscan |
| Измеряемые параметры | Контур | Шероховатость | Контур и шероховатость | Контур и шероховатость |
| Диапазон линейных измерений по оси Z, мм | от 0 до 601) от 0 до 902) | ±4001) ±8002) | от 0 до 81) от 0 до 162) | от 0 до 241) от 0 до 482) |
| Разрешение по оси Z, нм | 101) 152) | 11) 22) | 31) 62) | 0,31) 0,62) |
| Диапазон линейных измерений по оси X4), мм | от 0,1 до 120 от 0,1 до 200 |
| Разрешение по оси X, мкм | 0,1 |
| Предел допускаемого отклонения от прямолинейности перемещения по оси X6), мкм | 0,4 (на 120 мм) 0,6 (на 200 мм) |
| Измерительное усилие, мН | от 5 до 50 | 0,75 | от 0,75 до 30 | от 0,75 до 30 |
| При измерении контура поверхности |
| Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений по оси гу3) 6) Z ’ , мкм | ±(1,2 + Z/50) где Z - измеряемая длина, мм | - | ±(1,0 + Z/50) где Z - измеряемая длина, мм |
| Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений по оси 3) 6) X’ , мкм | ±(1,0 + X/100) где X - измеряемая длина, мм | - | ±(1,0 + X/100) где X - измеряемая длина, мм |
| Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений радиусов3) 5) 6), мкм | ±3,0 | - | ±3,0 | ±1,5 |
| При измерении шероховатости поверхности3 |
| Диапазон измерений шероховатости по параметру Ra, мкм | - | от 0,01 до 260 |
| Пределы допускаемой относительной погрешности измерений шероховатости по параметрам Ra6), % | - | ±3 |
| Радиус закругления щупа, мкм | - | 2 |
| Наименование характеристики | Значение |
| Модификация датчика | Digiscan | TKU400 | Surfscan | Nanoscan |
1) - при использованнии стандартной консоли;
2) - при использовании консоли двойной длины;
3) - при использовании стандартного щупа;
4) - в зависимости от блока привода;
5) - для радиусов от 12 до 15 мм;
6) - при температуре окружающего воздуха от плюс 19 до плюс 21 °С и относительной влажности воздуха (без конденсата) не более 50 %
Таблица 3 - Технические характеристики приборов Waveline W800
| Наименование характеристики | Значение |
| Модификация датчика | Digiscan | TKU400 | Surfscan | Nanoscan |
| Диапазон позиционирования по оси Z, мм | от 0 до 5004) от 0 до 8005) |
| Максимальная скорость позиционирования по оси X, мм/с | 20 |
| Точность позиционирования по оси X, мкм | 10 |
| Максимальная скорость позиционирования по оси Z, мм/с | 20 |
| Точность позиционирования по оси Z, мкм | 50 |
| Параметры шероховатости | - | Rt, Ra, Rz, Rp, Rv, Rq, RSm, Rc, Rsk, Rku, RAq, Rmr, C(Rmr), Rmr(c), Rdc, Pt, Pa, Pz, Pp, Pv, Pq, PSm, Pc, Psk, Pku, PAq, Pmr, C(Pmr), Pmr(c), Pdc, Wt, Wa, Wz, Wp, Wv, Wq, WSm, Wc, Wsk, Wku, WAq, Wmr, (Wmr),Wmr(c), Wdc, Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, Vo, Rpk*, Rvk*, A1, A2, R, Rx, AR, Nr, W, Wx, AW, Wte, Nw, Rz-JIS, Ra, RPc, Wsa, Wca, Rmax, RzISO, D, Aa, Aq, L0, R3z, Rp3z, R3zm, WDSm, WDt, WDc, DG, Dt, DP, DF, DFu, DLu, Dy |
| Параметры электрического питания (от внешней сети): - напряжение переменного тока, В - частота переменного тока, Гц | от 100 до 120 / от 220 до 240 50/60 |
| Потребляемая мощность, В-А, не более | 1500 |
| Наименование характеристики | Значение |
| Модификация датчика | Digiscan | TKU400 | Surfscan | Nanoscan |
| Габаритные размеры, мм, не более: - длина - ширина - высота | 7001), 10002), 14603) 5201) 2), 8103) 11244), 14245), 17706), 20707) |
| Масса, кг, не более | 1601), 2302), 4803) |
| Условия эксплуатации: - диапазон рабочих температур, °С - относительная влажность воздуха (без конденсата), % | от +15 до +30 80 | от +10 до +40 80 | от +18 до +25 80 |
| 1) - прибор в настольном исполнении с гранитной плитой (700x520x100 мм); 2) - прибор в настольном исполнении с гранитной плитой (1000x520x110 мм); 3) - прибор с опциональным измерительным столом; 4) - прибор в настольном исполнении (высота колонны 500 мм); 5) - прибор в настольном исполнении (высота колонны 800 мм); 6) - прибор с опциональным измерительным столом (высота колонны 500 мм); 7) - прибор с опциональным измерительным столом (высота колонны 800 мм) |
Таблица 4 - Метрологические характеристики приборов Waveline W900
| Наименование характеристики | Значение |
| Модификация датчика | Digiscan | TKU400 | Surfscan | Nanoscan |
| Измеряемые параметры | Контур | Шероховатость | Контур и шероховатость | Контур и шероховатость |
| Диапазон линейных измерений по оси Z, мм | от 0 до 601) от 0 до 902) | ±4001) ±8002) | от 0 до 81) от 0 до 162) | от 0 до 241) от 0 до 482) |
| Разрешение по оси Z, нм | 101) 152) | 11) 22) | 31) 62) | 0,31) 0,62) |
| Диапазон линейных измерений по оси X4), мм | от 0,1 до 120 от 0,1 до 200 |
| Разрешение по оси X, мкм | 0,01 |
| Предел допускаемого отклонения от прямолинейности перемещения по оси X6), мкм | 0,2 (на 120 мм) 0,4 (на 200 мм) |
| Измерительное усилие, мН | от 5 до 50 | 0,75 | от 0,75 до 30 | от 0,75 до 30 |
| Наименование характеристики | Значение |
| Модификация датчика | Digiscan | TKU400 | Surfscan | Nanoscan |
| При измерении контура поверхности |
| Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений по оси 3) 6) Z ’ , мкм | ±(0,8 + Z/50) где Z - измеряемая длина, мм | - | ±(0,7 + Z/50) где Z - измеряемая длина, мм |
| Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений по оси 3) 6) X’ , мкм | ±(1,0 + X/100) где X - измеряемая длина, мм | - | ±(1,0 + X/100) где X - измеряемая длина, мм |
| Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений радиусов3) 5) 6), мкм | ±1,5 | - | ±1,5 | ±1,2 |
| При измерении ше | роховатости поверхности3 |
| Диапазон измерений шероховатости по параметру Ra, мкм | - | от 0,01 до 260 |
| Пределы допускаемой относительной погрешности измерений шероховатости по параметрам Ra6), % | - | ±3 |
| Радиус закругления щупа, мкм | - | 2 |
| 1) - при использованнии стандартной консоли; 2) - при использовании консоли двойной длины; 3) - при использовании стандартного щупа; 4) - в зависимости от блока привода; 5) - для радиусов от 12 до 15 мм; 6) - при температуре окружающего воздуха от плюс 19 до плюс 21 °С и относительной влажности воздуха (без конденсата) не более 50 % |
| Наименование характеристики | Значение |
| Модификация датчика | Digiscan | TKU400 | Surfscan | Nanoscan |
| Диапазон позиционирования по оси Z, мм | от 0 до 5004) от 0 до 8005) |
| Максимальная скорость позиционирования по оси X, мм/с | 200 |
| Точность позиционирования по оси X, мкм | 10 |
| Максимальная скорость позиционирования по оси Z, мм/с | 80 |
| Точность позиционирования по оси Z, мкм | 10 |
| Параметры шероховатости | - | Rt, Ra, Rz, Rp, Rv, Rq, RSm, Rc, Rsk, Rku, RAq, Rmr, C(Rmr), Rmr(c), Rdc, Pt, Pa, Pz, Pp, Pv, Pq, PSm, Pc, Psk, Pku, PAq, Pmr, C(Pmr), Pmr(c), Pdc, Wt, Wa, Wz, Wp, Wv, Wq, WSm, Wc, Wsk, Wku, WAq, Wmr, (Wmr),Wmr(c), Wdc, Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, Vo, Rpk*, Rvk*, A1, A2, R, Rx, AR, Nr, W, Wx, AW, Wte, Nw, Rz-JIS, Ra, RPc, Wsa, Wca, Rmax, RzlSO, D, Aa, Aq, L0, R3z, Rp3z, R3zm, WDSm, WDt, WDc, DG, Dt, DP, DF, DFu, DLu, Dy |
| Параметры электрического питания (от внешней сети): - напряжение переменного тока, В - частота переменного тока, Гц | от 100 до 120 / от 220 до 240 50/60 |
| Потребляемая мощность, В-А, не более | 1500 |
| Габаритные размеры, мм, не более: - длина - ширина - высота | 7001), 10002), 14603) 5201) 2), 8103) 11244), 14245), 17706), 20707) |
| Масса, кг, не более | 1601), 2302), 4803) |
| Условия эксплуатации: - диапазон рабочих температур, °С - относительная влажность воздуха (без конденсата), %, не более | от +15 до +30 80 | от +10 до +40 80 | от +18 до +25 80 | от +18 до +25 80 |
| Наименование характеристики | | Значение | |
| Модификация датчика | Digiscan TKU400 | Surfscan | Nanoscan |
| 1) - прибор в настольном исполнении с гранитной плитой (700x520x100 мм); 2) - прибор в настольном исполнении с гранитной плитой (1000x520x110 мм); 3) - прибор с опциональным измерительным столом; 4) - прибор в настольном исполнении (высота колонны 500 мм); 5) - прибор в настольном исполнении (высота колонны 800 мм); 6) - прибор с опциональным измерительным столом (высота колонны 500 мм); 7) - прибор с опциональным измерительным столом (высота колонны 800 мм) | | |
Знак утверждения типа
наносят на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом. Комплектность средства измерений
Таблица 4 - Комплектность средства измерений
| Наименование | Обозначение | Количество |
| Прибор для измерений параметров контура и шероховатости поверхности в сборе | Waveline W800 или Waveline W900 | 1 шт. |
| Датчик для измерений контура и (или) шероховатости | - | по заказу |
| Стандартный щуп для измерений контура1) | - | 1 шт. |
| Стандартный щуп для измерений шероховатости2) | - | 1 шт. |
| Набор для калибровки датчика контура1) | - | 1 шт. |
| Руководство по эксплуатации | - | 1 экз. |
| Методика поверки | МП 203-48-2019 | 1 экз. |
| 1) - для датчиков модификаций Digiscan, Surfscan, Nanoscan; 2) - для датчиков модификаций TKU400, Surfscan, Nanoscan |
Поверка
осуществляется по документу МП 203-48-2019 «Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности Waveline W800 и Waveline W900. Методика поверки», утвержденному ФГУП «ВНИИМС» 9 сентября 2019 г.
Основные средства поверки:
- меры длины концевые плоскопараллельные 4-го разряда по Приказу Росстандарта от
29.12.2019 г. № 2840;
- мера для поверки приборов для измерений контура поверхности KN100 (Рег. № 52266-12);
- мера наружного диаметра 4-го разряда по Приказу Росстандарта от 29.12.2019 г. № 2840 - сфера диаметром от 24 мм до 30 мм;
- пластина плоская стеклянная 4-го разряда по ГОСТ 8.661-2018;
- мера шероховатости 1-го разряда по ГОСТ 8.296-2015.
Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемых СИ с требуемой точностью.
Знак поверки наносится на свидетельство о поверке в виде оттиска клейма или на корпус прибора в виде голографической наклейки.
Сведения о методах измерений
приведены в эксплуатационном документе.
Нормативные документы
Техническая документация фирмы-изготовителя
77351-20: Методика поверки МП 203-48-2019Скачать3.8 Мб