Назначение
Система фотоэлектрическая МФС-8 (далее - система) предназначена для измерения массовой доли элементов в металлах, сплавах и других материалах.
Описание
Принцип действия системы фотоэлектрической МФС-8 основан на методе эмиссионного спектрального анализа с возбуждением пробы с помощью электрической дуги или искрового разряда. Интенсивность эмиссионного излучения пропорциональна массовой доле элементов в пробе.
Конструктивно система представляет собой моноблок, состоящий из полихроматора, источника возбуждения спектров, штатива, анализатора МАЭС и персонального компьютера.
Пробы устанавливаются в штатив и выступают в качестве одного из электродов. С помощью генератора «FIREBALL», возбуждается электрический разряд - дуга или искра. В разряде происходит испарение и возбуждение свечения атомов пробы. Полихроматор разлагает излучение в спектр, характеризующий состав пробы: каждому элементу соответствует совокупность спектральных линий, интенсивность которых зависит от содержания элементов в пробе. Для анализа пробы выбирают по одной линии из спектра каждого анализируемого элемента и одну или несколько линий сравнения из спектра основы или другого внутреннего стандарта и измеряют относительную интенсивность линий анализируемых элементов и линий сравнения. Аналитические линии выделяются из спектра с помощью выходных щелей, установленных в фокальной плоскости полихроматора. Световые потоки анализируемых линий направляются на многоканальный анализатор МАЭС, который преобразует спектр оптического излучения в электрический сигнал многокристальной сборкой из нескольких многоэлементных полупроводниковых детекторов. Многоэлементным детектором излучения в анализаторе МАЭС является линейка фотодиодов. Генерированные фотодиодами заряды накапливаются в закрытых от света МОП-емкостях (интеграторах), не меняя напряжения смещения фотодиодов. По истечении времени экспозиции накопленные заряды одновременно и быстро переносятся на входные емкости усилителей, после чего начинается новый цикл накопления сигнала в интеграторах и последовательное считывание выходных сигналов усилителей на выход линейки с помощью коммутатора. Выходной сигнал далее преобразуется в цифровой сигнал в блоке электронной регистрации и передается по кабелю в персональный компьютер с помощью компьютерного интерфейса. Для стабилизации измерительных параметров кристаллы линеек фотодиодов помещены в термостатированный корпус, наполненный сухим азотом повышенного давления. Температура линеек контролируется полупроводниковым датчиком температуры, установленным в непосредственной близости от кристаллов линеек. Поддержание стабильной температуры линеек фотодиодов осуществляется с помощью термоэлектрических холодильников Пельтье.
Нанесение знака поверки на систему не предусмотрено. На корпус системы с торца нанесена несъемная клейкая этикетка с заводским номером в цифровом формате: № 880006.
Общий вид системы и обозначение места нанесения этикетки с заводским номером представлены на рисунке 1.
Пломбирование системы не предусмотрено. Конструкция системы обеспечивает ограничение доступа к частям системы, несущим первичную измерительную информацию, и местам настройки (регулировки).
Программное обеспечение
Система оснащена программным обеспечением (далее - ПО). ПО является метрологически значимым и выполняет следующие функции
- управление системой;
- определение и хранение калибровочных коэффициентов;
- вычисление, хранение, передача результатов измерений;
- редактирование параметров системы.
Уровень защиты программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «Высокий» по Р 50.2.077-2014.
Идентификационные данные ПО системы приведены в таблице 1.
Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения
| Идентификационные данные (признаки) | Значение |
| Идентификационное наименование ПО | Атом |
| Номер версии (идентификационный номер) ПО | не ниже 3.3 |
| Цифровой идентификатор ПО | - |
Технические характеристики
Таблица 2 - Метрологические характеристики
| Наименование характеристики | Значение |
| Спектральный диапазон, нм | от 208 до 353 |
| Спектральное разрешение, нм, не более | 0,05 |
| Диапазон измерений массовой доли элементов, % | от 0,00001 до 0,3 |
| Предел допускаемого относительного среднего квадратического отклонения результатов измерений выходного сигнала1^ %: - железа (Х=259,9396 нм 2)) | 8 |
| - никеля (Х=300,2485 нм) | 8 |
| - хрома (Х=302,1566 нм) | 8 |
Чувствительность, %, не менее:
Значение
Наименование характеристики
- железа (Х=259,9396 нм)
100
5
100
- никеля (Х=300,2485 нм)
- хрома (i=302,1566 нм)_
1) — Значение относительной интенсивности при измерении массовых долей химических элементов в ГСО 2376-82/2380-82.
2) — В зависимости от матрицы используемого ГСО, допускается измерение выходного сигнала при других длинах волн в соответствии с аттестованными методиками (методами) измерений._
Таблица 3 - Основные технические характеристики
| Наименование характеристики | Значение |
| Параметры электрического питания: | |
| от однофазной сети переменного тока | |
| - напряжение переменного тока, В | 220±22 |
| - частота переменного тока, Г ц | 50±1 |
| Габаритные размеры, мм, не более: | |
| - высота | 510 |
| - ширина | 765 |
| - длина | 2490 |
| Масса, кг, не более | 341 |
| Условия эксплуатации: | |
| - температура окружающей среды, °С | от +15 до +28 |
| - относительная влажность воздуха, %, не более | 80 |
Знак утверждения типа
наносится на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом. Комплектность средства измерений
Таблица 4 - Комплектность средства измерений
| Наименование | Обозначение | Количество |
| Система фотоэлектрическая в составе: | МФС-8 | 1 шт. |
| - полихроматор | - | 1 шт. |
| - источник возбуждения спектров | - | 1 шт. |
| - штатив | - | 1 шт. |
| - анализатор | МАЭС | 1 шт. |
| - персональный компьютер | ПК | 1 шт. |
| Программное обеспечение | ПО | 1 шт. |
| Руководство по эксплуатации «Система фотоэлектрическая МФС-8» | Ю-30.67.059 ИЭ | 1 экз. |
| Паспорт «Система фотоэлектрическая МФС-8» | Ю-30.67.059 ПС | 1 экз. |
| Руководство пользователя ПО «Атом» | РП | 1 экз. |
| Методика поверки | - | 1 экз. |
Сведения о методах измерений
приведены в руководстве по эксплуатации в разделе 6 «Порядок работы на оборудовании». Применение системы в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений осуществляется в соответствии с аттестованными методиками (методами) измерений.
Нормативные документы, устанавливающие требования к средству измерений
ОИ 001.656-2008 «Цирконий и его сплавы. Спектральная атомно-эмиссионная методика измерения содержания примесей».
Правообладатель
Г осударственное предприятие «Ленинградское оптико-механическое объединение» (ГП «ЛОМО»)
Адрес: 194044, г. Ленинград, ул. Чугунная, д. 20
86468-22: Методика поверкиСкачать4.4 Мб