Назначение
Спектрофотометры микропланшетные EPOCH, EPOCH2 (далее - спектрофотометры) предназначены для измерений оптической плотности исследуемых образцов различного происхождения.
Описание
Принцип действия спектрофотометров основан на измерении отношения двух световых потоков, прошедших через канал сравнения и канал образца в кюветном отделении. Монохроматор в качестве диспергирующего элемента использует вогнутую дифракционную решетку. Источником света служит импульсная ксеноновая лампа. Монохроматический луч от монохроматора при помощи полупрозрачного зеркала разделяется на пучки, направляемые на исследуемый и на эталонный образцы, и направляется в кюветное отделение. Прошедший через образец пучок затем попадает на детекторы, в качестве которых используются высокочувствительные фотодиоды.
Спектрофотометры имеют спектральную ширину щели 2,9 нм.
Спектрофотометры EPOCH, EPOCH2 выпускаются в следующих модификациях:
EPOCH, EPOCH2, EPOCH2NS, EPOCH2NSC, EPOCH2TS, EPOCH2TSC, EPOCH2Q EPOCH2T EPOCH2TC.
Спектрофотометры предназначены для измерения оптической плотности образцов в 6-, 12-, 24-, 48-, и 96- луночных планшетах, а также в кварцевых кюветах с длиной оптического пути в 1 см (кроме модификации EPOCH).
Конструктивно спектрофотометры выполнены в виде настольных приборов и состоят из основного блока спектрофотометра с кюветным отделением. Модификации EPOCH2TS, EPOCH2TSC, EPOCH2^ EPOCH2TC снабжены сенсорным экраном. Управление модификациями EPOCH, EPOCH2, EPOCH2NS, EPOCH2NSC, EPOCH2С осуществляется через персональный компьютер, подключаемый к спектрофотометрам.
Общий вид спектрофотометров представлен на рисунках 1 - 4.
Рисунок 1 - Общий вид спектрофотометров EPOCH
‘V -V.
\
aQc^
Рисунок 3 - Общий вид спектрофотометров EPOCH2TS, EPOCH2TSC
Схема маркировки спектрофотометров представлена на рисунке 5.
■изготовитель
Mfg. Date 2018-07-24 dl
[BloTek Instruments, Inc ш1 100 7igan StreM Highland Park, PO Вок 998 Winooski, VTOMOJ-DMe Tel: BO2-G55-4(M0 Mad» in USA [REFl EPOCH
#C£AXfe’
__L; IS
lAhHSu-dlHffl ,
чнв1Ер(ен1,»|Т'“т!*и‘
Щ 1307246
знак утверждения типа
модификация
серииныи номер
Рисунок 5 - Схема маркировки
Пломбирование Спектрофотометры микропланшетные EPOCH, EPOCH2 не предусмотрено.
Программное обеспечение
Спектрофотометры модификаций EPOCH, EPOCH2, EPOCH2NS, EPOCH2NSC, ЕРОСН2С функционируют под управлением автономного специального программного обеспечения (далее - ПО), установленного на персональный компьютер или планшет. В спектрофотометрах модификаций EPOCH2TS, EPOCH2TSC, EPOCH2^ EPOCH2TC используется встроенное программное обеспечение, которое устанавливается заводом-изготовителем непосредственно в ПЗУ системы.
Программное обеспечение осуществляет функции сбора, обработки и представления измерительной информации, настройки параметров измерения, построения градуировочных графиков по стандартам, печати и сохранения результатов анализа.
Программное обеспечение записано в энергонезависимой памяти персонального компьютера. Невозможно несанкционированное изменение ПО, доступ к программному обеспечению исключён посредством ограничения прав учетной записи пользователя.
Идентификационные данные программного обеспечения приведены в таблице 1.
Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения
| Идентификационные данные (признаки) | Значение |
| Идентификационное наименование ПО | Gen5 |
| Номер версии (идентификационный номер) ПО | не ниже 3.0 |
| Цифровой идентификатор ПО | - |
Защита программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «средний» в соответствии с Р 50.2.077-2014.
Таблица 2 - Метрологические характеристики
| Наименование характеристики | Значение |
| Спектральный диапазон, нм | от 200 до 999 |
| Пределы допускаемой абсолютной погрешности установки длины волны, нм | ±2 |
| Диапазон измерений оптической плотности в спектральном диапазоне от 340 до 750 нм, Б | от 0,03 до 3,00 |
| Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений оптической плотности в спектральном диапазоне от 340 до 750 нм в диапазоне измерений от 0,03 до 1,00 включ. Б, Б | ±0,03 |
| Пределы допускаемой относительной погрешности измерений оптической плотности в спектральном диапазоне от 340 до 750 нм в диапазоне измерений св. 1,00 до 3,00 включ. Б, % | ±3,00 |
Таблица 3 - Основные технические характеристики
| Наименование характеристики | Значение |
| Спектральная ширина щели, нм, не более | 2,9 |
| Габаритные размеры средства измерений, мм, не более: - высота - ширина - длина | 330 320 395 |
| Масса, кг, не более | 25 |
| Потребляемая мощность, В • А, не более | 140 |
| Параметры электрического питания: - напряжение переменного тока, В - частота переменного тока, Гц | от 100 до 240 от 50 до 60 |
| Условия эксплуатации: - температура окружающей среды, °С - относительная влажность, %, не более | от +15 до +35 от 30 до 80 |
Знак утверждения типа
наносится на корпус прибора методом наклеивания и на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом.
Комплектность
Комплектность средства измерений приведена в таблице 4.
Таблица 4 - Комплектность спектрофотометров
| Наименование | Обозначение | Количество, шт. |
| Спектрофотометр | - | 1 |
| Кабель электропитания | - | 1 |
| USB кабель | - | 1 |
| Руководство по эксплуатации | - | 1 |
| Методика поверки | МП 023.Д4-19 | 1 |
Поверка
осуществляется по документу МП 023.Д4-19 «Спектрофотометры микропланшетные EPOCH, EPOCH2. Методика поверки», утвержденному ФГУП «ВНИИОФИ» 03 апреля 2019 г.
Основные средства поверки:
- комплект светофильтров КНС-10.5., рег. № 65272-16;
- комплект светофильтров поверочный КСП-02 рег. № 38817-08.
Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик, поверяемых СИ с требуемой точностью.
Знак поверки наносится на свидетельство о поверке.
Сведения о методах измерений
приведены в эксплуатационном документе.
Нормативные документы, устанавливающие требования к спектрофотометрам микропланшетным EPOCH, EPOCH2
ГОСТ 8.557-2007 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений спектральных, интегральных и редуцированных коэффициентов направленного пропускания и оптической плотности в диапазоне длин волн от 0,2 до 50,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн от 0,2 до 20,0 мкм
Техническая документация компании «BioTek Instruments Inc.», США
76596-19: Методика поверки МП 023.Д4-19Скачать5.1 Мб
810-53