Назначение
Спектрофотометры XDS предназначены для измерения спектральной оптической плотности в отраженном или проходящем свете твердых, гранулированных, порошкообразных и жидких образцов в спектральном диапазоне от 400 до 2500 нм.
Спектрофотометры XDS предназначаются для применения в химических лабораториях промышленных предприятий, в основном пищевой и фармацевтической промышленности, и в научно-исследовательских учреждениях.
Описание
Принцип действия спектрофотометров XDS основан на сравнении двух световых потоков: полного, принимаемого за 100% отражения или пропускания, и ослабленного при отражении или прохождении через исследуемый образец.
Все модификации спектрофотометров XDS включают в свой состав одинаковый спектрофотометрический модуль, осуществляющий освещение образцов монохроматическим излечением в спектральном диапазоне от 400 до 2500 нм и регистрацию отраженного или проходящего потока излучения. В спектрофотометрическом модуле располагаются источник света (галогенная лампа накаливания); монохроматор с подвижной дифракционной решеткой; встроенные опорные образцы сравнения для самокалибровки прибора; узел регистрации излучения (группа фотоприемников на основе кремния, арсенида индия-галлия, сульфида свинца), а также блоки питания, управления и связи с управляющим компьютером.
К спектрофотометрическому модулю, в зависимости от требуемого режима измерений, пристыковываются различные измерительные блоки, определяющие модификацию данного экземпляра прибора.
Спектрофотометры XDS с измерительным блоком для твердых образцов (модификации «XDS Rapid Content Analyzer» и «XDS MultiVial Analyzer») и с выносным оптоволоконным измерительным блоком (модификации «XDS SmartProbe Analyzer» и «XDS OptiProbe Analyzer») предназначены для измерения спектральной оптической плотности в отраженном свете (десятичный логарифм спектрального коэффициента отражения) твердых, гранулированных, порошкообразных и жидких образцов.
Спектрофотометры XDS с измерительным блоком для жидких образцов (модификация «XDS Rapid Liquid Analyzer» ) предназначены для измерения спектрального коэффициента пропускания и оптической плотности прозрачных твердых или жидких образцов.
Спектрофотометры XDS с универсальным измерительным блоком (модификация «XDS MasterLab Tablet Analyzer») предназначены для измерения спектрального коэффициента пропускания и оптической плотности различных образцов в отраженном или проходящем свете.
Управление режимами работы, все операции калибровки, измерений и сохранения результатов производится специализированной компьютерной программой «VisionTM», работающей в среде Windows.
Технические характеристики
| 1. Диапазон измерений спектральной оптической плотности, Б | от 0,00 до 2,00 |
| 2. Рабочий спектральный диапазон, нм | от 400 до 2500 |
| 3. Предел допускаемой абсолютной погрешности при измерении спектральной оптической плотности, Б - в диапазоне от 0,00 до 1,00 Б - в диапазоне свыше 1,00 Б 4. Предел допускаемой абсолютной погрешности шкалы длин волн, нм 5. Напряжение питающей сети, В 7. Потребляемая мощность (без учета компьютера), ВА, не более 8. Габаритные размеры, мм, не более - модификации «XDS MasterLab Tablet Analyzer», «XDS MultiVial Analyzer», «XDS Rapid Content Analyzer», «XDS Rapid Liquid Analyzer» - модификации «XDS SmartProb Analyzer», «XDS OptiProbe Analyzer» | ±0,03 ±0,06 ±1,0 220 ± 22 В, 50Гц 150 460 х 390 х 580 460 х 450 х 820 |
| 9. Масса, кг, не более | 35,0 |
Спектрофотометры XDS предназначены для эксплуатации при температуре окружающей среды от 4,5 до 35°С и относительной влажности не более 90% без конденсации влаги.
Спектрофотометры XDS являются восстанавливаемыми изделиями.
Знак утверждения типа
Знак утверждения типа наносится на титульный лист Руководства по эксплуатации спектрофотометров типографским способом.
Комплектность
Спектрофотометры XDS имеют следующую комплектность:
| Спектрофотометр XDS Чашки и кюветы для образцов Комплект ЗИП CD диск с программным обеспечением ПЭВМ (поставляется отдельно) Руководство по эксплуатации | 1 от 1 до 12 1 1 1 1 |
Поверка
Спектрофотометры XDS подлежат периодической поверке в соответствии с методикой поверки (Приложение А к руководству по эксплуатации), утвержденной ГЦИ СИ ФГУ «Ростест-Москва» в июле 2010 г.
Средства поверки:
- Комплект мер диффузного отражения ХС-1010, номер по Госреестру СИ 35951-07, рабочий спектральный диапазон от 400 до 2600 нм, диапазон измерений спектрального коэффициента отражения от 0,02 до 0,95, погрешность не более ± 0,005 в диапазоне от 0,95 до 0,20 отн.ед.; не более ± 0,003 в диапазоне ниже 0,20 отн.ед.; погрешность измерений длин волн пиков поглощения светофильтра WaveCert-1920а не более + 0,3 нм. Комплект светофильтров КНС-10.5, номер по Госреестру СИ 43463-09, рабочий спектральный диапазон от 260 до 2700 нм, диапазон измерений спектрального коэффициента пропускания от 0,02 до 0,95, погрешность не более ±0,005; погрешность измерений длин волн пиков поглощения светофильтра НГГ не более ± 0,15 нм.
Межповерочный интервал - 1 год.
Нормативные документы
ГОСТ 8.557-2007. Государственная поверочная схема для СИ спектральных, интегральных и редуцированных коэффициентов направленного пропускания и оптической плотности в диапазоне длин волн 0,2 - 50,0 мкм, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн 0,2 - 20,0 мкм.
Заключение
Тип спектрофотометров XDS модификации «XDS MasterLab Tablet Analyzer», «XDS MultiVial Analyzer», «XDS Rapid Content Analyzer», «XDS OptiProbe Analyzer », «XDS SmartProb Analyzer», «XDS Rapid Liquid Analyzer» утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, метрологически обеспечен при выпуске из производства и в эксплуатации согласно государственной поверочной схеме ГОСТ 8.557-2007.
