Назначение
Средство измерений пространственных характеристик лазерного излучения BeamStar FX50 (далее по тексту - прибор) предназначено для измерений относительного распределения плотности энергии (ОРПЭ) в поперечном сечении пучка лазерного излучения и координат энергетического центра и применяется в области обороны и безопасности при контроле технического состояния оптико-электронных систем.
Описание
Принцип действия прибора основан на преобразовании фоточувствительным матричным преобразователем распределения интенсивности лазерного излучения в поперечном сечении пучка в цифровые коды и последующей их обработке с помощью компьютера. .
Прибор состоит из блока измерительного преобразователя (ИП) на основе матрицы и стола юстировочного. Блок ИП подключается к персональному компьютеру с помощью кабеля.
Технические характеристики
Основные технические характеристики прибора приведены в таблице 1. Таблица 1
| Наименование характеристики | Значение |
| Динамический диапазон измерений ОРПЭ | от 0,001 до 1 |
| Предел допускаемой относительной погрешности измерений ОРПЭ, % | 2,5 |
| Рабочий спектральный диапазон, мкм | от 0,2 до 1,1 |
| Частота следования импульсов, Гц | от однократных импульсов до 500 |
| Максимальный размер сечения пучка измеряемого излучения (ширина х высота), мм | 6,3 х 4,7 |
| Максимальное значение плотности энергии, Дж/см2 | 1 |
| Время установления рабочего режима, мин, не более | 30 |
| Время непрерывной работы, ч, не менее | 8 |
| Габаритные размеры (длина х ширина х высота), мм, не более: ИП стол юстировочный | 77x36x70 75x100x125 |
| Масса, кг, не более | 0,5 |
| Рабочие условия эксплуатации: температура окружающего воздуха, °C относительная влажность воздуха при температуре 25, °C, % | от 10 до 35 до 80 |
Знак утверждения типа
Знак утверждения типа наносится на лицевую панель ИП в виде неклейки и титульный лист эксплуатационной документации типографским способом.
Комплектность
В комплект поставки входят: средство измерений пространственных характеристик лазерного излучения BeamStar FX50, комплект технической документации фирмы-изготовителя, методика поверки.
Поверка
Поверка прибора проводится в соответствии с документом «Средство измерений пространственных характеристик лазерного излучения BeamStar FX50 фирмы «OPHIR Optronics, Ltd.», Израиль. Методика поверки», утвержденным начальником ГЦИ СИ «Воентест» 32 ГНИИИ МО РФ в ноябре 2009 года и входящим в комплект поставки.
Средства поверки: военный эталон единиц средней мощности и энергии лазерного излучения ВЭ-36-06 (диапазон средней мощности от 2 до 10'3 Вт, диапазон энергии от 2 до 10'3 Дж, суммарная погрешность не более 0,15 %, погрешность передачи размеров единиц не более 0,2 %); средство измерений пространственно-энергетических характеристик импульсного лазерного излучения СИПХ-1 (диапазон измерений ОРПЭ от 0,05 до 1).
Межповерочный интервал - 1 год.
Нормативные документы
Техническая документация фирмы-изготовителя.
Заключение
Тип средства измерений пространственных характеристик лазерного излучения BeamStar FX50 утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, метрологически обеспечен в эксплуатации.
