НИЦПВ - характеристики.
заказать СИ
Госреестр средств измерений РФ на основании сведений из ФГИС “АРШИН”

НИЦПВ

Фото

Преобразователи акустической эмиссии низкочастотные ПС-100 и ПСС-100

Наименование

Преобразователи акустической эмиссии низкочастотные ПС-100 и ПСС-100

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

ООО "НТЦ "Нефтегаздиагностика", г.Москва

Фото

Преобразователи акустической эмиссии высокочастотные ПС-600

Наименование

Преобразователи акустической эмиссии высокочастотные ПС-600

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

ООО "НТЦ "Нефтегаздиагностика", г.Москва

Фото

Плотномеры Plato Monitor

Наименование

Плотномеры Plato Monitor

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Haffmans B.V.", Нидерланды

Фото

Мутномеры лабораторные VOS Rota

Наименование

Мутномеры лабораторные VOS Rota

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Haffmans B.V.", Нидерланды

Фото

Мониторы мультигазовые переносные Impact и Impact Pro

Наименование

Мониторы мультигазовые переносные Impact и Impact Pro

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Zellweger Analytics S.A.", Франция

Фото

Микроскопы электронные растровые с системой энергодисперсионного микроанализа РЭМ-106И

Наименование

Микроскопы электронные растровые с системой энергодисперсионного микроанализа РЭМ-106И

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

ОАО "SELMI", Украина, г.Сумы

Фото

Микроскопы сканирующие зондовые Solver Pro

Наименование

Микроскопы сканирующие зондовые Solver Pro

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва

Фото

Микроскопы сканирующие зондовые Solver P47

Наименование

Микроскопы сканирующие зондовые Solver P47

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "NT-MDT", г.Москва

Фото

Микроскопы сканирующие зондовые SOLVER NEXT

Наименование

Микроскопы сканирующие зондовые SOLVER NEXT

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва

Фото

Микроскопы сканирующие зондовые Ntegra

Наименование

Микроскопы сканирующие зондовые Ntegra

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва

Фото

Микроскоп электронный растровый Philips XL 40

Наименование

Микроскоп электронный растровый Philips XL 40

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Philips Analytical X-Ray B.V.", Нидерланды

Фото

Микроскоп электронный растровый JSM-7401F

Наименование

Микроскоп электронный растровый JSM-7401F

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Jeol", Япония

Фото

Микроскоп электронный растровый JSM-7001F

Наименование

Микроскоп электронный растровый JSM-7001F

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Jeol", Япония

Фото

Микроскоп электронный просвечивающий с рентгеновским спектрометром Tecnai G2 30 S-TWIN (микроскоп) EDAX (спектрометр)

Наименование

Микроскоп электронный просвечивающий с рентгеновским спектрометром Tecnai G2 30 S-TWIN (микроскоп) EDAX (спектрометр)

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскоп электронный просвечивающий JEM-2100F

Наименование

Микроскоп электронный просвечивающий JEM-2100F

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Jeol", Япония
Показано с 46 по 60 из 101 (всего 7 страниц)