Фирма "FEI Company", США - характеристики, описание, методика поверки
заказать СИ
Госреестр средств измерений РФ на основании сведений из ФГИС “АРШИН”

Фирма "FEI Company", США


Фото

Анализатор рентгенофлуоресцентный TXRF 8030C

Наименование

Анализатор рентгенофлуоресцентный TXRF 8030C

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650

Наименование

Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650

Наименование

Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскоп электронно-ионный растровый Quanta 200 3D

Наименование

Микроскоп электронно-ионный растровый Quanta 200 3D

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскоп электронно-ионный растровый Scios

Наименование

Микроскоп электронно-ионный растровый Scios

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

1 год

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный Helios NanoLab 650

Наименование

Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный Helios NanoLab 650

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300

Наименование

Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300

Наименование

Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскоп электронный просвечивающий с рентгеновским спектрометром Tecnai G2 30 S-TWIN (микроскоп) EDAX (спектрометр)

Наименование

Микроскоп электронный просвечивающий с рентгеновским спектрометром Tecnai G2 30 S-TWIN (микроскоп) EDAX (спектрометр)

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскоп электронный сканирующий c системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов Verios 460 XНR SEM

Наименование

Микроскоп электронный сканирующий c системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов Verios 460 XНR SEM

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

1 год

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскоп электронный сканирующий Inspect S50

Наименование

Микроскоп электронный сканирующий Inspect S50

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскопы электронные просвечивающие Morgagni, Tecnai 12, Tecnai 20, Tecnai 30

Наименование

Микроскопы электронные просвечивающие Morgagni, Tecnai 12, Tecnai 20, Tecnai 30

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскопы электронные просвечивающие Morgagni, Tecnai G2, Titan 80-300

Наименование

Микроскопы электронные просвечивающие Morgagni, Tecnai G2, Titan 80-300

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскопы электронные сканирующие XL,

Наименование

Микроскопы электронные сканирующие XL, "Quanta"

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Система микроскопической инспекции FEI Helios G4 CX

Наименование

Система микроскопической инспекции FEI Helios G4 CX

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

1 год

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США
Показано с 1 по 15 из 17 (всего 2 страниц)