Микроскопы - характеристики.
Госреестр средств измерений РФ на основании сведений из ФГИС “АРШИН”

Микроскопы

Фото

Система микроскопической инспекции FEI Helios G4 CX

Тип

Методики поверки

86262-22: Методика поверки

Описание типа

86262-22: Описание типа СИ

МПИ

1 год

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Приспособления для внутренних измерений к универсальному измерительному микроскопу Н30-1

Тип

Н30-1

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Не задан

Фото

Микроскопы электронные сканирующие XL,

Тип

XL, "Quanta"

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскопы электронные сканирующие XL

Тип

XL

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Микроскопы электронные сканирующие CS44 и MaXim 2000

Тип

CS44 и MaXim 2000

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Микроскопы электронные растровые с системой энергодисперсионного микроанализа РЭМ-106И

Тип

РЭМ-106И

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

ОАО "SELMI", Украина, г.Сумы

Фото

Микроскопы электронные растровые настольные Phenom мод. Phenom Pure, Phenom Pro, Phenom ProX

Тип

Phenom мод. Phenom Pure, Phenom Pro, Phenom ProX

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Микроскопы электронные растровые настольные Phenom Pure, Phenom Pro, Phenom ProX, Phenom Pharos, Phenom XL

Тип

Методики поверки

75820-19: Методика поверки

Описание типа

75820-19: Описание типа СИ

МПИ

1 год

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Микроскопы электронные растровые настольные Phenom

Тип

Методики поверки

86402-22: Методика поверки

Описание типа

86402-22: Описание типа СИ

МПИ

1 год

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Микроскопы электронные растровые настольные JCM-6000

Тип

JCM-6000

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Jeol", Япония

Фото

Микроскопы электронные растровые настольные EM-30 PLUS, EM-30 AX PLUS

Тип

Методики поверки

73441-18: Методика поверки

Описание типа

73441-18: Описание типа СИ

МПИ

1 год

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "COXEM Co., Ltd.", Корея

Фото

Микроскопы электронные растровые JSM-6x10x (мод. JSM-6010LV, JSM-6010LA, JSM-6010Plus/LV, JSM-6010Plus/LA, JSM-6510Plus, JSM-6510Plus/A, JSM-6510Plus/LV, JSM-6510Plus/LA)

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

60728-15: Описание типа СИ

МПИ

1 год

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Jeol", Япония

Фото

Микроскопы электронные растровые JSM-6x10 (мод. JSM-6510, JSM-6510LV, JSM-6510LA, JSM-6510A, JSM-6610, JSM-6610LV, JSM-6610LA, JSM-6610A)

Тип

JSM-6x10 (мод. JSM-6510, JSM-6510LV, JSM-6510LA, JSM-6510A, JSM-6610, JSM-6610LV, JSM-6610LA, JSM-6610A)

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Jeol", Япония

Фото

Микроскопы электронные растровые JSM IT300x (мод. JSM IT300, JSM IT300LV, JSM IT300A, JSM IT300LA)

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

60731-15: Описание типа СИ

МПИ

1 год

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Jeol", Япония

Фото

Микроскопы электронные просвечивающие Morgagni, Tecnai G2, Titan 80-300

Тип

Morgagni, Tecnai G2, Titan 80-300

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США
Показано с 1 по 15 из 202 (всего 14 страниц)