Учреждение РАН Институт физики полупроводников им.А.В.Ржанова Сибирского отделения РАН (ИФП СО РАН), г.Новосибирск - характеристики, описание, методика поверки
Госреестр средств измерений РФ на основании сведений из ФГИС “АРШИН”

Учреждение РАН Институт физики полупроводников им.А.В.Ржанова Сибирского отделения РАН (ИФП СО РАН), г.Новосибирск


Фото

Комплекты мер высоты СТЕПП-ИФП-1

Тип

СТЕПП-ИФП-1

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-
Показано с 1 по 1 из 1 (всего 1 страниц)