Микроскопы - характеристики.
Госреестр средств измерений РФ на основании сведений из ФГИС “АРШИН”

Микроскопы

Фото

Микроскоп сканирующий зондовый MultiMode V

Тип

MultiMode V

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Veeco Instruments Inc.", США

Фото

Микроскоп с измерительной насадкой

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Микроскоп растровый электронный SUPRA-25

Тип

SUPRA-25

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Микроскоп растровый электронный NVision 40

Тип

NVision 40

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Микроскоп растровый электронный Hitachi S-9380

Тип

Hitachi S-9380

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Hitachi", Япония

Фото

Микроскоп оптический ультрафиолетового диапазона INM 300 DUV

Тип

INM 300 DUV

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Микроскоп оптический Motic B1-223ASC

Тип

Motic B1-223ASC

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Микроскоп оптический Motic B1-223ASC

Тип

Motic B1-223ASC

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Микроскоп оптический AxioImager m2M

Тип

AxioImager m2M

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Микроскоп малый инструментальный ММИ-2

Тип

Методики поверки

599-72: Методика поверки

Описание типа

599-72: Описание типа СИ

МПИ

1 год

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Микроскоп конфокальный сканирующий VCM-200A

Тип

VCM-200A

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Veeco Instruments Inc.", США

Фото

Микроскоп конфокальный лазерный сканирующий VL2000DX

Тип

МПИ

1 год

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100

Тип

Методики поверки

64204-16: Методика поверки

Описание типа

64204-16: Описание типа СИ

МПИ

1 год

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Микроскоп исследовательский универсальный Olympus BX51

Тип

Olympus BX51

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Фото

Микроскоп исследовательский для тестирования материалов Leica DM IRM

Тип

Leica DM IRM

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-
Показано с 166 по 180 из 204 (всего 14 страниц)