Микроскопы - характеристики.
заказать СИ
Госреестр средств измерений РФ на основании сведений из ФГИС “АРШИН”

Микроскопы

Фото

Микроскоп электронный растровый JSM-6490LV

Наименование

Микроскоп электронный растровый JSM-6490LV

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

1 год

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Jeol", Япония

Фото

Микроскоп электронный растровый JSM-6460LV

Наименование

Микроскоп электронный растровый JSM-6460LV

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Jeol", Япония

Фото

Микроскоп электронный растровый c системами для энергодисперсионного микроанализа, микроанализа с волновой дисперсией и системой анализа дифракции обратно рассеянных электронов Nova NanoSEM 450

Наименование

Микроскоп электронный растровый c системами для энергодисперсионного микроанализа, микроанализа с волновой дисперсией и системой анализа дифракции обратно рассеянных электронов Nova NanoSEM 450

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Czech Republic s.r.o.", Чехия

Фото

Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями JEM-2100

Наименование

Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями JEM-2100

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Jeol", Япония

Фото

Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300

Наименование

Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300

Наименование

Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскоп электронный просвечивающий Themis Z G3

Наименование

Микроскоп электронный просвечивающий Themis Z G3

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

1 год

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Thermo Fisher Scientific", США

Фото

Микроскоп электронный просвечивающий Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP

Наименование

Микроскоп электронный просвечивающий Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

1 год

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Europe B.V., P.O.", Нидерланды

Фото

Микроскоп электронный просвечивающий Libra120

Наименование

Микроскоп электронный просвечивающий Libra120

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH", Германия

Фото

Микроскоп электронный просвечивающий JEM-2100F

Наименование

Микроскоп электронный просвечивающий JEM-2100F

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Jeol", Япония

Фото

Микроскоп электронный просвечивающий JEM-2100

Наименование

Микроскоп электронный просвечивающий JEM-2100

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Jeol", Япония

Фото

Микроскоп электронный просвечивающий JEM-100CX

Наименование

Микроскоп электронный просвечивающий JEM-100CX

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Jeol", Япония

Фото

Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX

Наименование

Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Jeol", Япония

Фото

Микроскоп электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB Uxe

Наименование

Микроскоп электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB Uxe

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

1 год

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Thermo Fisher Scientific", США

Фото

Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный Helios NanoLab 650

Наименование

Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный Helios NanoLab 650

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США
Показано с 151 по 165 из 215 (всего 15 страниц)