Микроскопы - характеристики.
заказать СИ
Госреестр средств измерений РФ на основании сведений из ФГИС “АРШИН”

Микроскопы

Фото

Микроскоп электронный просвечивающий Themis Z G3

Наименование

Микроскоп электронный просвечивающий Themis Z G3

Тип

Методики поверки

86403-22: Методика поверки

Описание типа

86403-22: Описание типа СИ

МПИ

1 год

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Thermo Fisher Scientific", США

Фото

Микроскоп электронный просвечивающий Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP

Наименование

Микроскоп электронный просвечивающий Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

60084-15: Описание типа СИ

МПИ

1 год

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Europe B.V., P.O.", Нидерланды

Фото

Микроскоп электронный просвечивающий Libra120

Наименование

Микроскоп электронный просвечивающий Libra120

Тип

Libra120

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH", Германия

Фото

Микроскоп электронный просвечивающий JEM-2100F

Наименование

Микроскоп электронный просвечивающий JEM-2100F

Тип

JEM-2100F

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Jeol", Япония

Фото

Микроскоп электронный просвечивающий JEM-2100

Наименование

Микроскоп электронный просвечивающий JEM-2100

Тип

JEM-2100

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Jeol", Япония

Фото

Микроскоп электронный просвечивающий JEM-100CX

Наименование

Микроскоп электронный просвечивающий JEM-100CX

Тип

JEM-100CX

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Jeol", Япония

Фото

Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX

Наименование

Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX

Тип

JEM 200CX

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Jeol", Япония

Фото

Микроскоп электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB Uxe

Наименование

Микроскоп электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB Uxe

Тип

Методики поверки

80056-20: Методика поверки

Описание типа

80056-20: Описание типа СИ

МПИ

1 год

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Thermo Fisher Scientific", США

Фото

Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный Helios NanoLab 650

Наименование

Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный Helios NanoLab 650

Тип

Helios NanoLab 650

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскоп электронно-ионный растровый Scios

Наименование

Микроскоп электронно-ионный растровый Scios

Тип

Методики поверки

78941-20: Методика поверки

Описание типа

78941-20: Описание типа СИ

МПИ

1 год

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскоп электронно-ионный растровый Quanta 200 3D

Наименование

Микроскоп электронно-ионный растровый Quanta 200 3D

Тип

Quanta 200 3D

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500

Наименование

Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500

Тип

JIB-4500

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Jeol", Япония

Фото

Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650

Наименование

Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650

Тип

Методики поверки

-

Описание типа

69048-17: Описание типа СИ

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650

Наименование

Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650

Тип

Helios NanoLab 650

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "FEI Company", США

Фото

Микроскоп сканирующий электронный NanoSEM-3D

Наименование

Микроскоп сканирующий электронный NanoSEM-3D

Тип

NanoSEM-3D

Методики поверки

-

Описание типа

-

МПИ

-

Cвидетельство
завод. номер

-

Производитель

Фирма "Applied Materials, Inc.", США
Показано с 151 по 165 из 208 (всего 14 страниц)